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功率半导体器件功率循环等测试方法和老化机理研究
针对功率半导体和复合应用环境要求,探究新型功率循环测试方法和技术,如耦合环境应力的功率循环测试方法,以更加真实的贴近实际应用工况,准确评估器件的寿命和失效。
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针对功率半导体和复合应用环境要求,探究新型功率循环测试方法和技术,如耦合环境应力的功率循环测试方法,以更加真实的贴近实际应用工况,准确评估器件的寿命和失效。