Deep technology tracing for high-tech companies
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发表刊物： IEEE International Conference on Data Mining (ICDM)
合写作者：Han Wu, Kun Zhang, Guangyi Lv, Qi Liu, Runlong Yu, Weihao Zhao, Enhong Chen, Jianhui Ma
第一作者：Han Wu
论文类型：会议
通讯作者：Enhong Chen
页面范围：1396-1401
是否译文：否
发表时间：2019-11-08