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MURLAV: A Multiple-Node-Upset Recovery Latch and Algorithm-based Verification Method

发表刊物：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
第一作者：Aibin Yan, et al.
论文类型：期刊论文
是否译文：否
发布期刊链接：http://doi.org/10.1109/TCAD.2024.3357593

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