一种电路测试中可视化选取待测器件的方法
点击次数：
所属单位：合肥工业大学
发明设计人：路强;刘晓平;李恒;张静;沈冠町;
专利类型：发明
专利状态：授权专利
申请号：CN201210122722.5
授权号：CN102662143A
是否职务专利：否
申请日期：2012-04-24
公开日期：2012-09-12
授权日期：2014-03-12
硕士生导师
出生日期：1978-06-18
所在单位：计算机科学与技术系
职务：计算机应用技术研究所所长
学历：研究生(博士)毕业
办公地点：合肥工业大学翡翠湖校区翡翠科教楼
性别：男
学位：博士学位
在职信息：在职
主要任职：中国计算机学会高级会员、协同计算专委委员、CCF合肥分部监委主席；中国图象图形学学会可视化与可视分析专委委员
毕业院校：合肥工业大学
学科：计算机应用技术
软件工程其他专业
一种电路测试中可视化选取待测器件的方法
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所属单位：合肥工业大学
发明设计人：路强;刘晓平;李恒;张静;沈冠町;
专利类型：发明
专利状态：授权专利
申请号：CN201210122722.5
授权号：CN102662143A
是否职务专利：否
申请日期：2012-04-24
公开日期：2012-09-12
授权日期：2014-03-12